產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
雷達式液位計發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和**的測量。
詳情介紹：
雷達式液位計發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和**的測量。
即使工況比較復雜的情況下，存在虛假回波，用*新的微處理技術和調(diào)試軟件也可以準確的分析出物位的回波。
導波雷達發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質(zhì)，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與到被測介質(zhì)的距離成正比。容器中存在兩種不同介質(zhì)，當上面一層的介質(zhì)介電常數(shù)較小，而下面的介質(zhì)介電常數(shù)較大時，高頻微波脈沖沿著探測組件傳播遇到上層介質(zhì)時，由于其介電常數(shù)較小，因而有極少的能量被這一層介面反射，而大部分能量穿透上層介質(zhì)繼續(xù)向下傳播，遇到兩層的介面時，由于下層介質(zhì)的介電常數(shù)較大，因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達是可以測量兩種不同介質(zhì)的介面，其測量條件是上層介質(zhì)不導電或其介電常數(shù)比下層介質(zhì)介電常數(shù)小10以上。
雷達式液位計特點
由于采用了先進的微波處理器和獨特的EchoDiscovery回波處理技術，導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
多種過程連接方式及探測組件的型式，使得GDGW系列導波雷達物位計適用于各種復雜工況。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)等。
采用脈沖工作方式，導波雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。
雷達式液位計規(guī)格與參數(shù)
應用:液體測量,高溫高壓工況,復雜過程條件
*大量程： 纜：30m/棒：6m
測量精度：±10mm
過程連接：G1?A/G2A/1?NPT
探測組件材料：不銹鋼316L/陶瓷
鋼纜/棒直徑：￠6mm/￠10mm
過程溫度：-200～400℃
過程壓力：真空～400bar
信號輸出：兩線制4～20mA/HART
雷達式液位計安裝說明
推薦距離墻至安裝短管的外壁：
離罐壁為罐直徑1/6處，*小距離為200mm。
不能安裝在入料口的上方。
不能安裝在中心位置，如果安裝在中央，會產(chǎn)生多重虛假回波，干擾回波會導致信號丟失。
如果不能保持儀表與罐壁的距離，罐壁上的介質(zhì)會黏附造成虛假回波，在調(diào)試儀表的時候應該進行虛假回波存儲
雷達式液位計注意事項：
測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。若介質(zhì)為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。理論上測量達到天線**的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的**至少100mm。對于過溢保護，可定義一段**距離附加在盲區(qū)上。*小測量范圍與天線有關。隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。
雷達式液位計測量原理
導波雷達式液位計是依據(jù)時域反射原理(TDR)為基礎的雷達式液位計，雷達式液位計的電磁脈沖以光速沿鋼纜或探棒傳播，當遇到被測介質(zhì)表面時，雷達式液位計的部分脈沖被反射形成回波并沿相同路徑返回到脈沖發(fā)射裝置，發(fā)射裝置與被測介質(zhì)表面的距離同脈沖在其間的傳播時間成正比，經(jīng)計算得出液位高度。
訂雷達式液位計請?zhí)峁┫铝袇?shù)：
1、型號規(guī)格；
2、被測介質(zhì)名稱；
3、儀表測量范圍；
4、工作壓力；
5、工作溫度；
6、材質(zhì)要求；
即使工況比較復雜的情況下，存在虛假回波，用*新的微處理技術和調(diào)試軟件也可以準確的分析出物位的回波。
導波雷達發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質(zhì)，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與到被測介質(zhì)的距離成正比。容器中存在兩種不同介質(zhì)，當上面一層的介質(zhì)介電常數(shù)較小，而下面的介質(zhì)介電常數(shù)較大時，高頻微波脈沖沿著探測組件傳播遇到上層介質(zhì)時，由于其介電常數(shù)較小，因而有極少的能量被這一層介面反射，而大部分能量穿透上層介質(zhì)繼續(xù)向下傳播，遇到兩層的介面時，由于下層介質(zhì)的介電常數(shù)較大，因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達是可以測量兩種不同介質(zhì)的介面，其測量條件是上層介質(zhì)不導電或其介電常數(shù)比下層介質(zhì)介電常數(shù)小10以上。
雷達式液位計特點
由于采用了先進的微波處理器和獨特的EchoDiscovery回波處理技術，導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
多種過程連接方式及探測組件的型式，使得GDGW系列導波雷達物位計適用于各種復雜工況。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)等。
采用脈沖工作方式，導波雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。
雷達式液位計規(guī)格與參數(shù)
應用:液體測量,高溫高壓工況,復雜過程條件
*大量程： 纜：30m/棒：6m
測量精度：±10mm
過程連接：G1?A/G2A/1?NPT
探測組件材料：不銹鋼316L/陶瓷
鋼纜/棒直徑：￠6mm/￠10mm
過程溫度：-200～400℃
過程壓力：真空～400bar
信號輸出：兩線制4～20mA/HART
雷達式液位計安裝說明
推薦距離墻至安裝短管的外壁：
離罐壁為罐直徑1/6處，*小距離為200mm。
不能安裝在入料口的上方。
不能安裝在中心位置，如果安裝在中央，會產(chǎn)生多重虛假回波，干擾回波會導致信號丟失。
如果不能保持儀表與罐壁的距離，罐壁上的介質(zhì)會黏附造成虛假回波，在調(diào)試儀表的時候應該進行虛假回波存儲
雷達式液位計注意事項：
測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。若介質(zhì)為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。理論上測量達到天線**的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的**至少100mm。對于過溢保護，可定義一段**距離附加在盲區(qū)上。*小測量范圍與天線有關。隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。
雷達式液位計測量原理
導波雷達式液位計是依據(jù)時域反射原理(TDR)為基礎的雷達式液位計，雷達式液位計的電磁脈沖以光速沿鋼纜或探棒傳播，當遇到被測介質(zhì)表面時，雷達式液位計的部分脈沖被反射形成回波并沿相同路徑返回到脈沖發(fā)射裝置，發(fā)射裝置與被測介質(zhì)表面的距離同脈沖在其間的傳播時間成正比，經(jīng)計算得出液位高度。
訂雷達式液位計請?zhí)峁┫铝袇?shù)：
1、型號規(guī)格；
2、被測介質(zhì)名稱；
3、儀表測量范圍；
4、工作壓力；
5、工作溫度；
6、材質(zhì)要求；
